Navigation

Elektronik: kredse og komponenter

Electromigration In Ulsi Interconnections

Udgivet af World Scientific Publishing Co Pte Ltd

Bogdetaljer

  • Indbundet
  • 312 sider
  • Engelsk
ISBN 9789814273329
Om denne bog

Presents a description of the electro migration in integrated circuits. This book examines the various interconnected systems and their evolution employed in integrated circuit technology. It is suitable for readers on electro migration in ULSI interconnections.

Se alle bogdetaljer →
Prissammenligning

Ingen boghandelspriser listet endnu

Denne titel er i vores bogkatalog. Butikstilbud vises her, når de er tilgængelige.

Betroet sælger:

Ingen boghandelstilbud lige nu.

Søg efter ISBN
Opdateret i dag

Boghandelspriser

Boghandel Titel Format ISBN Pris Lagerstatus Levering

Ingen boghandelstilbud endnu

Vi har titlen i kataloget. Priser vises her, når boghandlere lister den.

0.0
0 anmeldelser
5
0
4
0
3
0
2
0
1
0
0%
Anbefaler
0
Verificeret
Alle anmeldelser (0)

Ingen anmeldelser endnu

Skriv en anmeldelse

Valgfri - Kun brugt til verifikation
0 / 5000 tegn
Bogdetaljer
Forfatter Cher Ming Tan
Forlag World Scientific Publishing Co Pte Ltd
Kategori Elektronik: kredse og komponenter
ISBN-13 9789814273329
EAN 9789814273329
Format Indbundet
Sprog Engelsk
sider 312
Produktbeskrivelse
Presents a description of the electro migration in integrated circuits. This book examines the various interconnected systems and their evolution employed in integrated circuit technology. It is suitable for readers on electro migration in ULSI interconnections.

Prishistorik

Indlæser prishistorik...

Få prisalarm

Bliv underrettet, når prisen falder til dit ønskede beløb.